推动相干衍射成像的分辨率极限
在实际光学成像系统中,横向分辨率通常由R=k×λ/NA定义,其中λ代表照明波长,NA表示成像系统的数值孔径,k是与照明条件、信号畸变和样品特性等多个变量相关的成像因子。在阿贝分辨率极限中,为0.5,规定了理想成像系统最终可分辨距离的理论极限。由于光波不可避免的
在实际光学成像系统中,横向分辨率通常由R=k×λ/NA定义,其中λ代表照明波长,NA表示成像系统的数值孔径,k是与照明条件、信号畸变和样品特性等多个变量相关的成像因子。在阿贝分辨率极限中,为0.5,规定了理想成像系统最终可分辨距离的理论极限。由于光波不可避免的
华中科技大学 Shiyuan Liu、Honggang Gu 团队提出了一种具有优化成像因子(k = 0.501)的近 0.9NA 相干衍射成像 (CDI),首次在超高 NA 场景中突破了阿贝分辨率衍射极限。利用超高 NA 和阿贝极限 k 因子,作者证明了 C
近日,南方科技大学电子与电气工程系副教授张福才课题组提出了一种适用于色散样品的超宽带无透镜衍射成像方法(Ultra-broadband ptychography),相关成果以“Ultra-broadband ptychography for dispersiv
近日,南方科技大学电子与电气工程系副教授张福才课题组在相干衍射成像(CDI)研究方面取得进展,提出了一种基于帧间连续性的动态样品序列CDI方法(serial CDI)。相关成果以“Serial coherent diffraction imaging of d